ASTM F154-00
Standardhandbuch zur Identifizierung von Strukturen und Verunreinigungen auf spiegelnden Siliziumoberflächen

Standard-Nr.
ASTM F154-00
Erscheinungsdatum
2000
Organisation
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Zustand
ersetzt durch
ASTM F154-02
Letzte Version
ASTM F154-02

ASTM F154-00 Normative Verweisungen

  • ASTM F1241 
  • ASTM F1725 Standardhandbuch zur Analyse der kristallographischen Perfektion von Siliziumbarren
  • ASTM F1726 Standardhandbuch zur Analyse der kristallographischen Perfektion von Siliziumwafern
  • ASTM F1727 Standardpraxis zur Erkennung von durch Oxidation verursachten Defekten in polierten Siliziumwafern
  • ASTM F1809 Standardhandbuch für die Auswahl und Verwendung von Ätzlösungen zur Darstellung struktureller Defekte in Silizium
  • ASTM F1810 
  • ASTM F523 Standardpraxis für die visuelle Inspektion polierter Siliziumwaferoberflächen ohne Hilfsmittel

ASTM F154-00 Veröffentlichungsverlauf

  • 1970 ASTM F154-02
  • 2000 ASTM F154-00 Standardhandbuch zur Identifizierung von Strukturen und Verunreinigungen auf spiegelnden Siliziumoberflächen
Standardhandbuch zur Identifizierung von Strukturen und Verunreinigungen auf spiegelnden Siliziumoberflächen



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