GB/T 20230-2006
Indiumphosphid-Signaturkristall (Englische Version)
Start
GB/T 20230-2006
Standard-Nr.
GB/T 20230-2006
Sprachen
Chinesisch,
Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2006
Organisation
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Zustand
ersetzt werden
2022-10
ersetzt durch
GB/T 20230-2022
Letzte Version
GB/T 20230-2022
GB/T 20230-2006 Normative Verweisungen
GB/T 13387
Testverfahren zur Messung flacher Wafer aus Silizium und anderen elektronischen Materialien
*
,
2009-10-30 Aktualisieren
GB/T 1550
Prüfverfahren für den Leitfähigkeitstyp von extrinsischen Halbleitermaterialien
*
,
2018-12-28 Aktualisieren
GB/T 1555
Methode zur Bestimmung der Kristallorientierung eines Halbleiter-Einkristalls
*
,
2023-08-06 Aktualisieren
GB/T 4326
Messung der Hall-Mobilität und des Hall-Koeffizienten durch extrinsische Halbleiter-Einkristalle
*
,
2006-07-18 Aktualisieren
GB/T 6618
Prüfverfahren für Dicke und Gesamtdickenschwankung von Siliziumscheiben
*
,
2009-10-30 Aktualisieren
GB/T 20230-2006 Veröffentlichungsverlauf
2022
GB/T 20230-2022
Indiumphosphid-Einkristall
2006
GB/T 20230-2006
Indiumphosphid-Signaturkristall
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