GB/T 17473.1 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Feststoffgehalts*, 2008-03-31 Aktualisieren
GB/T 17473.2 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Feinheit*, 2008-03-31 Aktualisieren
GB/T 17473.3 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Schichtwiderstands*, 2008-03-31 Aktualisieren
GB/T 17473.5 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Viskosität*, 2008-03-31 Aktualisieren
GB/T 17473.7 Prüfverfahren für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik – Teil 7: Bestimmung der Lötbarkeit und der Beständigkeit gegen Lotauslaugung*, 2022-03-09 Aktualisieren