GB/T 14140.2-1993
Siliziumscheiben und -wafer – Messung des Durchmessers – Mikrometermethode (Englische Version)

Standard-Nr.
GB/T 14140.2-1993
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
1993
Organisation
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Zustand
 2010-06
ersetzt durch
GB/T 14140-2009
Letzte Version
GB/T 14140-2009

GB/T 14140.2-1993 Veröffentlichungsverlauf

  • 2009 GB/T 14140-2009 Testverfahren zur Messung des Durchmessers von Halbleiterwafern
  • 1993 GB/T 14140.2-1993 Siliziumscheiben und -wafer – Messung des Durchmessers – Mikrometermethode
Siliziumscheiben und -wafer – Messung des Durchmessers – Mikrometermethode

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