IEC 60147-2F:1974
Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und allgemeine Prinzipien der Messmethoden. Teil 2: Allgemeine Grundlagen der Messmethoden.

Standard-Nr.

IEC 60147-2F:1974

Erscheinungsdatum

1974

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

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Letzte Version

IEC 60147-2F:1974

ersetzt durch

IEC 60747-2:1983 IEC 60747-1:1983 IEC 60747-6:1983

IEC 60147-2F:1974 Veröffentlichungsverlauf

• 1963 IEC 60147-2:1963 Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und allgemeine Prinzipien der Messmethoden. Teil 2: Allgemeine Grundlagen der Messmethoden

IEC 60147-2F:1974 Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und allgemeine Prinzipien der Messmethoden. Teil 2: Allgemeine Grundlagen der Messmethoden. ha sido cambiado a IEC 60747-2:1983 Halbleiterbauelemente. Diskrete Geräte. Teil 2: Gleichrichterdioden.

IEC 60147-2F:1974 Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und allgemeine Prinzipien der Messmethoden. Teil 2: Allgemeine Grundlagen der Messmethoden. ha sido cambiado a IEC 60747-1:1983 Halbleiterbauelemente. Diskrete Geräte. Teil 1: Allgemeines.

IEC 60147-2F:1974 Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und allgemeine Prinzipien der Messmethoden. Teil 2: Allgemeine Grundlagen der Messmethoden. ha sido cambiado a IEC 60747-6:1983 Halbleiterbauelemente. Diskrete Geräte. Teil 6: Thyristoren.