GB/T 20229-2022
Galliumphosphid-Einkristall (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 20229-2022
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2022
- Organisation
- 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
- Letzte Version
- GB/T 20229-2022
- Ersetzen
- GB/T 20229-2006
GB/T 20229-2022 Normative Verweisungen
- GB/T 14264 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen
- GB/T 14844 Bezeichnungen von Halbleitermaterialien
- GB/T 1555 Methode zur Bestimmung der Kristallorientierung eines Halbleiter-Einkristalls*， 2023-08-06 Aktualisieren
- GB/T 2828.1-2012 Prüfverfahren nach Zählprobenahme Teil 1: Stichprobenplan für die Chargenprüfung, abgerufen durch die Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL)
- GB/T 4326 Messung der Hall-Mobilität und des Hall-Koeffizienten durch extrinsische Halbleiter-Einkristalle
- GB/T 6618 Prüfverfahren für Dicke und Gesamtdickenschwankung von Siliziumscheiben
- GB/T 6620 Testverfahren zur Messung der Verformung von Siliziumscheiben durch berührungsloses Scannen
- GB/T 6621 Prüfmethoden für die Oberflächenebenheit von Siliziumscheiben
- GB/T 6624 Standardmethode zur Messung der Oberflächenqualität polierter Siliziumscheiben durch visuelle Inspektion
GB/T 20229-2022 Veröffentlichungsverlauf
- 2022 GB/T 20229-2022 Galliumphosphid-Einkristall
- 2006 GB/T 20229-2006 Galliumphosphid-Signalkristall
