IEEE No 300-1969*USAS N42.1-1969
USA-Standard und IEEE-Testverfahren für Halbleiter-Strahlungsdetektoren (für ionisierende Strahlung)

Standard-Nr.

IEEE No 300-1969*USAS N42.1-1969

Erscheinungsdatum

1968

Organisation

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

IEEE 300-1982

Letzte Version

IEEE 300-1988

IEEE No 300-1969*USAS N42.1-1969 Veröffentlichungsverlauf

• 1988 IEEE 300-1988 Standardtestverfahren für Halbleiterdetektoren für geladene Teilchen
• 1982 IEEE 300-1982 STANDARDTESTVERFAHREN FÜR HALBLEITER-DETEKTOREN FÜR GELADENE TEILCHEN
• 1968 IEEE No 300-1969*USAS N42.1-1969 USA-Standard und IEEE-Testverfahren für Halbleiter-Strahlungsdetektoren (für ionisierende Strahlung)