IEEE 300-1982
STANDARDTESTVERFAHREN FÜR HALBLEITER-DETEKTOREN FÜR GELADENE TEILCHEN

Standard-Nr.

IEEE 300-1982

Erscheinungsdatum

1982

Organisation

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

Zustand

ersetzt werden 2006-06

ersetzt durch

IEEE 300-1988

Letzte Version

IEEE 300-1988

IEEE 300-1982 Veröffentlichungsverlauf

• 1988 IEEE 300-1988 Standardtestverfahren für Halbleiterdetektoren für geladene Teilchen
• 1982 IEEE 300-1982 STANDARDTESTVERFAHREN FÜR HALBLEITER-DETEKTOREN FÜR GELADENE TEILCHEN
• 1970 IEEE 300-1969 USA-Standard und IEEE-Testverfahren für Halbleiter-Strahlungsdetektoren (für ionisierende Strahlung)