IEEE 300-1988
Standardtestverfahren für Halbleiterdetektoren für geladene Teilchen

Standard-Nr.

IEEE 300-1988

Erscheinungsdatum

1988

Organisation

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

Letzte Version

IEEE 300-1988

IEEE 300-1988 Veröffentlichungsverlauf

• 1988 IEEE 300-1988 Standardtestverfahren für Halbleiterdetektoren für geladene Teilchen
• 1982 IEEE 300-1982 STANDARDTESTVERFAHREN FÜR HALBLEITER-DETEKTOREN FÜR GELADENE TEILCHEN
• 1970 IEEE 300-1969 USA-Standard und IEEE-Testverfahren für Halbleiter-Strahlungsdetektoren (für ionisierende Strahlung)