IEC 60749-10:2022
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 10: Mechanischer Schock – Gerät und Unterbaugruppe

Standard-Nr.
IEC 60749-10:2022
Erscheinungsdatum
2022
Organisation
International Electrotechnical Commission (IEC)
Letzte Version
IEC 60749-10:2022

IEC 60749-10:2022 Veröffentlichungsverlauf

  • 2022 IEC 60749-10:2022 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 10: Mechanischer Schock – Gerät und Unterbaugruppe
  • 2003 IEC 60749-10:2002/COR1:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 10: Mechanischer Schock
  • 2002 IEC 60749-10:2002 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 10: Mechanischer Schock
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 10: Mechanischer Schock – Gerät und Unterbaugruppe



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