ISO 18257:2016
Raumfahrtsysteme – Integrierte Halbleiterschaltungen für Raumfahrtanwendungen – Designanforderungen
- Standard-Nr.
- ISO 18257:2016
- Erscheinungsdatum
- 2016
- Organisation
- International Organization for Standardization (ISO)
- Letzte Version
- ISO 18257:2016
ISO 18257:2016 Normative Verweisungen
- IEC 61967-2:2005 Integrierte Schaltkreise – Messung elektromagnetischer Emissionen, 150 kHz bis 1 GHz – Teil 2: Messung abgestrahlter Emissionen – TEM-Zelle und Breitband-TEM-Zellen-Methode
- IEC 62132 Integrierte Schaltkreise – Messung der elektromagnetischen Immunität – Teil 8: Messung der Strahlungsimmunität – IC-Streifenleitungsverfahren
- IEC 62215-3:2013 Integrierte Schaltkreise – Messung der Impulsimmunität – Teil 3: Nichtsynchrones transientes Injektionsverfahren
- ISO 10795:2011 Raumfahrtsysteme – Programmmanagement und Qualität – Wortschatz
ISO 18257:2016 Veröffentlichungsverlauf
- 2016 ISO 18257:2016 Raumfahrtsysteme – Integrierte Halbleiterschaltungen für Raumfahrtanwendungen – Designanforderungen
