IEC 62132-8:2012
Integrierte Schaltkreise – Messung der elektromagnetischen Immunität – Teil 8: Messung der Strahlungsimmunität – IC-Streifenleitungsverfahren

Standard-Nr.
IEC 62132-8:2012
Erscheinungsdatum
2012
Organisation
International Electrotechnical Commission (IEC)
Letzte Version
IEC 62132-8:2012
Ersetzen
IEC 47A/882/FDIS:2012

IEC 62132-8:2012 Veröffentlichungsverlauf

  • 2012 IEC 62132-8:2012 Integrierte Schaltkreise – Messung der elektromagnetischen Immunität – Teil 8: Messung der Strahlungsimmunität – IC-Streifenleitungsverfahren
Integrierte Schaltkreise – Messung der elektromagnetischen Immunität – Teil 8: Messung der Strahlungsimmunität – IC-Streifenleitungsverfahren



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