GB/T 32988-2016
Synthetischer Quarzkristallwafer für optischen Tiefpassfilter (OLPF) (Englische Version)

Standard-Nr.

GB/T 32988-2016

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2016

Organisation

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Letzte Version

GB/T 32988-2016

GB/T 32988-2016 Normative Verweisungen

• GB/T 1185 Oberflächenfehler optischer Elemente
• GB/T 2828.1-2012 Prüfverfahren nach Zählprobenahme Teil 1: Stichprobenplan für die Chargenprüfung, abgerufen durch die Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL)
• GB/T 2831 Oberflächenformabweichung optischer Elemente
• GB/T 6618-2009 Prüfverfahren für Dicke und Gesamtdickenschwankung von Siliziumscheiben
• GB/T 7895 Synthetischer Quarzkristall in optischer Qualität
• GB/T 7896-2008 Prüfverfahren für synthetische Quarzkristalle in optischer Qualität

GB/T 32988-2016 Veröffentlichungsverlauf

• 2016 GB/T 32988-2016 Synthetischer Quarzkristallwafer für optischen Tiefpassfilter (OLPF)