ISO 16700:2016
Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- Standard-Nr.
- ISO 16700:2016
- Erscheinungsdatum
- 2016
- Organisation
- International Organization for Standardization (ISO)
- Letzte Version
- ISO 16700:2016
ISO 16700:2016 Normative Verweisungen
- ISO 5725-1:1994 Genauigkeit (Richtigkeit und Präzision) von Messmethoden und -ergebnissen – Teil 1: Allgemeine Grundsätze und Definitionen
- ISO GUIDE 30:2015 Referenzmaterialien – Ausgewählte Begriffe und Definitionen
- ISO GUIDE 34:2009 Allgemeine Anforderungen an die Kompetenz von Referenzmaterialherstellern
- ISO GUIDE 35:2006 Referenzmaterialien – Allgemeine und statistische Grundsätze für die Zertifizierung
- ISO/IEC 17025:2005 Allgemeine Anforderungen an die Kompetenz von Prüf- und Kalibrierlaboratorien
- ISO/IEC GUIDE 98-3:2008 Messunsicherheit – Teil 3: Leitfaden zum Ausdruck der Messunsicherheit (GUM:1995)
ISO 16700:2016 Veröffentlichungsverlauf
- 2016 ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- 2004 ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
