ISO 16700:2004
Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- Standard-Nr.
- ISO 16700:2004
- Erscheinungsdatum
- 2004
- Organisation
- International Organization for Standardization (ISO)
- Zustand
- ersetzt durch
- ISO 16700:2016
- Letzte Version
- ISO 16700:2016
ISO 16700:2004 Normative Verweisungen
- ISO 5725-1:1994 Genauigkeit (Richtigkeit und Präzision) von Messmethoden und -ergebnissen – Teil 1: Allgemeine Grundsätze und Definitionen
- ISO Guide 30:1992 Begriffe und Definitionen, die im Zusammenhang mit Referenzmaterialien verwendet werden
- ISO Guide 34:1996 Richtlinien des Qualitätssystems für die Herstellung von Referenzmaterialien
- ISO Guide 35:1989 Zertifizierung von Referenzmaterialien – Allgemeine und statistische Grundsätze
- ISO/IEC 17025:1999 Allgemeine Anforderungen an die Kompetenz von Prüf- und Kalibrierlaboratorien
ISO 16700:2004 Veröffentlichungsverlauf
- 2016 ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- 2004 ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
