BS EN IEC 61837-2:2018
Auf der Oberfläche montierte piezoelektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Standardumrisse und Anschlusskabelanschlüsse. Keramikgehäuse

Standard-Nr.
BS EN IEC 61837-2:2018
Erscheinungsdatum
2018
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Zustand
 2020-11
ersetzt durch
BS EN IEC 61837-2:2018+A1:2020
Letzte Version
BS EN IEC 61837-2:2018+A1:2020
Ersetzen
BS EN 61837-2-2011+A1:2014

BS EN IEC 61837-2:2018 Normative Verweisungen

  • EN 60122-3:2010 Quarzkristalleinheiten bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • EN 60191-6:2009 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen
  • EN 60368-1:2000 Piezoelektrische Filter mit bewerteter Qualität Teil 1: Fachgrundspezifikation (Enthält Änderung A1: 2004)
  • EN 60368-2-2:1999 Piezoelektrische Filter – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung piezoelektrischer Filter – Abschnitt 2: Piezoelektrische Keramikfilter
  • EN 60368-3:2010 Piezoelektrische Filter mit bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Leitungsanschlüsse*2024-03-30 Aktualisieren
  • EN 60679-1:2017 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • EN 60679-3:2013 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • EN 60862-1:2015 Oberflächenwellenfilter (SAW) mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • EN 60862-2:2012 Oberflächenwellenfilter (SAW) mit bewerteter Qualität – Teil 2: Richtlinien für die Verwendung
  • EN 61019-2:2005 Oberflächenwellenresonatoren (SAW), Teil 2: Leitfaden zur Verwendung
  • EN 61240:2012 Piezoelektrische Geräte – Erstellung von Umrisszeichnungen oberflächenmontierter Geräte (SMD) zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Allgemeine Regeln*2024-03-30 Aktualisieren
  • EN ISO 1101:2017 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Geometrische Toleranzen – Toleranzen von Form, Ausrichtung, Lage und Rundlauf
  • IEC 60122-2:1983 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl
  • IEC 60122-3:2010 Quarzkristalleinheiten bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • IEC 60191-6:2009 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen
  • IEC 60368-1:2000 Piezoelektrische Filter mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • IEC 60368-2-2:1996 Piezoelektrische Filter – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung piezoelektrischer Filter – Abschnitt 2: Piezoelektrische Keramikfilter
  • IEC 60368-3:2010 Piezoelektrische Filter mit bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Leitungsanschlüsse
  • IEC 60679-1:2017 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • IEC 60679-3:2012 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • IEC 60862-1:2015 Oberflächenwellenfilter (SAW) mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • IEC 60862-2:2012 Oberflächenwellenfilter (SAW) mit bewerteter Qualität – Teil 2: Leitfaden für die Verwendung
  • IEC 61 Lampensockel und -fassungen sowie Messgeräte zur Kontrolle der Austauschbarkeit und Sicherheit; Teil 4: Richtlinien und allgemeine Informationen; Ergänzung 1 zu IEC 61-4(1990)
  • IEC 61019-1:2004 Oberflächenwellenresonatoren (SAW) – Teil 1: Allgemeine Spezifikation
  • IEC 61240:2016 Piezoelektrische Geräte – Erstellung von Umrisszeichnungen oberflächenmontierter Geräte (SMD) zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Allgemeine Regeln
  • ISO 1101:2017 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Geometrische Toleranzen – Form-, Orientierungs-, Lage- und Rundlauftoleranzen

BS EN IEC 61837-2:2018 Veröffentlichungsverlauf

  • 2020 BS EN IEC 61837-2:2018+A1:2020 Auf der Oberfläche montierte piezoelektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Standardumrisse und Anschlusskabelanschlüsse – Keramikgehäuse
  • 2018 BS EN IEC 61837-2:2018 Auf der Oberfläche montierte piezoelektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Standardumrisse und Anschlusskabelanschlüsse. Keramikgehäuse
  • 0000 BS EN 61837-2-2011+A1:2014



© 2024 Alle Rechte vorbehalten.