ISO 29301:2017
Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen

Standard-Nr.
ISO 29301:2017
Erscheinungsdatum
2017
Organisation
International Organization for Standardization (ISO)
Zustand
ersetzt durch
ISO 29301:2023
Letzte Version
ISO 29301:2023

ISO 29301:2017 Normative Verweisungen

  • ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
  • ISO 17034:2016 Allgemeine Anforderungen an die Kompetenz von Referenzmaterialherstellern
  • ISO 5725-1:1994 Genauigkeit (Richtigkeit und Präzision) von Messmethoden und -ergebnissen – Teil 1: Allgemeine Grundsätze und Definitionen
  • ISO GUIDE 30:2015 Referenzmaterialien – Ausgewählte Begriffe und Definitionen
  • ISO GUIDE 35:2017 Zertifizierung von Referenzmaterialien – Allgemeine und statistische Grundsätze
  • ISO/IEC 17025:2005 Allgemeine Anforderungen an die Kompetenz von Prüf- und Kalibrierlaboratorien
  • ISO/IEC GUIDE 98-3:2008 Messunsicherheit – Teil 3: Leitfaden zum Ausdruck der Messunsicherheit (GUM:1995)

ISO 29301:2017 Veröffentlichungsverlauf

  • 2023 ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
  • 2017 ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
  • 2010 ISO 29301:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen



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