ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 17034:2016 Allgemeine Anforderungen an die Kompetenz von Referenzmaterialherstellern
ISO 5725-1:1994 Genauigkeit (Richtigkeit und Präzision) von Messmethoden und -ergebnissen – Teil 1: Allgemeine Grundsätze und Definitionen
ISO GUIDE 30:2015 Referenzmaterialien – Ausgewählte Begriffe und Definitionen
ISO GUIDE 35:2017 Zertifizierung von Referenzmaterialien – Allgemeine und statistische Grundsätze
ISO/IEC 17025:2005 Allgemeine Anforderungen an die Kompetenz von Prüf- und Kalibrierlaboratorien
ISO/IEC GUIDE 98-3:2008 Messunsicherheit – Teil 3: Leitfaden zum Ausdruck der Messunsicherheit (GUM:1995)
ISO 29301:2017 Veröffentlichungsverlauf
2023ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
2017ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
2010ISO 29301:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen