GB/T 14863-1993
Standardtestverfahren für die Nettoträgerdichte in Silizium-Eqitaxieschichten durch Spannungs-Kapazität von gesteuerten und nicht gesteuerten Dioden (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 14863-1993
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 1993
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Zustand
- 2014-08
- ersetzt durch
- GB/T 14863-2013
- Letzte Version
- GB/T 14863-2013
GB/T 14863-1993 Veröffentlichungsverlauf
- 2013 GB/T 14863-2013 Methode zur Bestimmung der Nettoträgerdichte in Silizium-Epitaxieschichten durch Spannungs-Kapazität von gesteuerten und nicht gesteuerten Dioden
- 1993 GB/T 14863-1993 Standardtestverfahren für die Nettoträgerdichte in Silizium-Eqitaxieschichten durch Spannungs-Kapazität von gesteuerten und nicht gesteuerten Dioden
