JIS C 61326-2-1:2017
Elektrische Mess-, Steuer- und Laborgeräte – EMV-Anforderungen – Teil 2-1: Besondere Anforderungen – Prüfkonfigurationen, Betriebsbedingungen und Leistungskriterien für empfindliche Prüf- und Messgeräte für EMV-Schutz

Standard-Nr.

JIS C 61326-2-1:2017

Erscheinungsdatum

2017

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Zustand

ersetzt werden 2022-08

ersetzt durch

JIS C 61326-2-1:2022

Letzte Version

JIS C 61326-2-1:2022

Ersetzen

JIS C 1806-2-1:2010

JIS C 61326-2-1:2017 Veröffentlichungsverlauf

• 2022 JIS C 61326-2-1:2022 Elektrische Mess-, Steuer- und Laborgeräte – EMV-Anforderungen – Teil 2-1: Besondere Anforderungen – Prüfkonfigurationen, Betriebsbedingungen und Leistungskriterien für empfindliche Prüf- und Messgeräte für EMV-Schutz
• 2017 JIS C 61326-2-1:2017 Elektrische Mess-, Steuer- und Laborgeräte – EMV-Anforderungen – Teil 2-1: Besondere Anforderungen – Prüfkonfigurationen, Betriebsbedingungen und Leistungskriterien für empfindliche Prüf- und Messgeräte für EMV-Schutz
• 2010 JIS C 1806-2-1:2010 Elektrische Mess-, Steuer- und Laborgeräte – EMV-Anforderungen – Teil 2-1: Besondere Anforderungen – Prüfkonfigurationen, Betriebsbedingungen und Leistungskriterien für empfindliche Prüf- und Messgeräte für EMV-Schutz