JIS C 1806-2-1:2010
Elektrische Mess-, Steuer- und Laborgeräte – EMV-Anforderungen – Teil 2-1: Besondere Anforderungen – Prüfkonfigurationen, Betriebsbedingungen und Leistungskriterien für empfindliche Prüf- und Messgeräte für EMV-Schutz
- Standard-Nr.
- JIS C 1806-2-1:2010
- Erscheinungsdatum
- 2010
- Organisation
- Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
- Zustand
- ersetzt durch
- JIS C 61326-2-1:2017
- Letzte Version
- JIS C 61326-2-1:2017
JIS C 1806-2-1:2010 Normative Verweisungen
- JIS C 1806-1:2010 Elektrische Geräte für Mess-, Steuer- und Laborzwecke – EMV-Anforderungen – Teil 1: Allgemeine Anforderungen
- JIS C 60050-161:1997 Internationales elektrotechnisches Vokabular: Elektromagnetische Verträglichkeit
JIS C 1806-2-1:2010 Veröffentlichungsverlauf
- 2017 JIS C 61326-2-1:2017 Elektrische Mess-, Steuer- und Laborgeräte – EMV-Anforderungen – Teil 2-1: Besondere Anforderungen – Prüfkonfigurationen, Betriebsbedingungen und Leistungskriterien für empfindliche Prüf- und Messgeräte für EMV-Schutz
- 2010 JIS C 1806-2-1:2010 Elektrische Mess-, Steuer- und Laborgeräte – EMV-Anforderungen – Teil 2-1: Besondere Anforderungen – Prüfkonfigurationen, Betriebsbedingungen und Leistungskriterien für empfindliche Prüf- und Messgeräte für EMV-Schutz
