BS EN 60749-5:2017
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Dauertemperatur-Feuchtigkeits-Bias-Lebensdauertest

Standard-Nr.

BS EN 60749-5:2017

Erscheinungsdatum

2017

Organisation

British Standards Institution (BSI)

Letzte Version

BS EN 60749-5:2017

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BS EN 60749-5:2003

BS EN 60749-5:2017 Normative Verweisungen

• EN 60749-4:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)

BS EN 60749-5:2017 Veröffentlichungsverlauf

• 2017 BS EN 60749-5:2017 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Dauertemperatur-Feuchtigkeits-Bias-Lebensdauertest
• 2003 BS EN 60749-5:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit