BS EN 60749-5:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
- Standard-Nr.
- BS EN 60749-5:2003
- Erscheinungsdatum
- 2003
- Organisation
- British Standards Institution (BSI)
- Zustand
- 2017-07
- ersetzt durch
- BS EN 60749-5:2017
- Letzte Version
- BS EN 60749-5:2017
- Ersetzen
- 00/203277 DC-2000 BS EN 60749:1999
BS EN 60749-5:2003 Veröffentlichungsverlauf
- 2017 BS EN 60749-5:2017 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Dauertemperatur-Feuchtigkeits-Bias-Lebensdauertest
- 2003 BS EN 60749-5:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
