IEC 60444-8:2016
Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten

Standard-Nr.

IEC 60444-8:2016

Erscheinungsdatum

2016

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 60444-8:2016

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IEC 49/1126/CDV:2015 IEC 60444-8:2003

IEC 60444-8:2016 Normative Verweisungen

• IEC 60444-5:1995 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern – Teil 5: Methoden zur Bestimmung äquivalenter elektrischer Parameter mithilfe automatischer Netzwerkanalysatortechniken und Fehlerkorrektur

IEC 60444-8:2016 Veröffentlichungsverlauf

• 2016 IEC 60444-8:2016 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
• 2003 IEC 60444-8:2003 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten