IEC 60444-8:2003
Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten

Standard-Nr.

IEC 60444-8:2003

Erscheinungsdatum

2003

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

ersetzt werden 2016-12

ersetzt durch

IEC 60444-8:2016

Letzte Version

IEC 60444-8:2016

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IEC 60444-8-2003-07

IEC 60444-8:2003 Veröffentlichungsverlauf

• 2016 IEC 60444-8:2016 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
• 2003 IEC 60444-8:2003 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten