BS ISO 18257:2016 Raumfahrtsysteme. Integrierte Halbleiterschaltungen für Raumfahrtanwendungen. Designanforderungen Normen und Spezifikationen

BS ISO 18257:2016 Normative Verweisungen

IEC 61967-2 Integrierte Schaltkreise – Messung elektromagnetischer Emissionen, 150 kHz bis 1 GHz – Teil 2: Messung abgestrahlter Emissionen – TEM-Zelle und Breitband-TEM-Zellen-Methode
IEC 62132 Integrierte Schaltkreise – Messung der elektromagnetischen Immunität – Teil 8: Messung der Strahlungsimmunität – IC-Streifenleitungsverfahren
IEC 62215-3:2013 Integrierte Schaltkreise – Messung der Impulsimmunität – Teil 3: Nichtsynchrones transientes Injektionsverfahren
IEEE 1149.1 IEEE-Standard für Test Access Port und Boundary-Scan-Architektur*， 2024-03-30 Aktualisieren
ISO 10795 Raumfahrtsysteme – Programmmanagement und Qualität – Wortschatz*， 2019-07-12 Aktualisieren

2016 BS ISO 18257:2016 Raumfahrtsysteme. Integrierte Halbleiterschaltungen für Raumfahrtanwendungen. Designanforderungen