ISO 19606:2017 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, Hochleistungskeramik) – Prüfmethode für die Oberflächenrauheit feiner Keramikfilme mittels Rasterkraftmikroskopie Normen und Spezifikationen

ISO 19606:2017 Normative Verweisungen

ISO 11039:2012 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Messung der Driftrate
ISO 11775:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Cantilevers
ISO 11952:2014 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
ISO 16610-21:2011 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Filtration – Teil 21: Lineare Profilfilter: Gauß-Filter
ISO 18115-2:2013 Chemische Oberflächenanalyse.Vokabular.Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
ISO 25178-2:2012 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft – Teil 2: Begriffe, Definitionen und Oberflächenbeschaffenheitsparameter
ISO 25178-3:2012 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Fläche – Teil 3: Spezifikationsoperatoren
ISO 4287:1997 Geometrische Produktspezifikation (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Begriffe, Definitionen und Oberflächentexturparameter
ISO 4288:1996 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Profilmethode - Regeln und Verfahren zur Beurteilung der Oberflächenbeschaffenheit

2017 ISO 19606:2017 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, Hochleistungskeramik) – Prüfmethode für die Oberflächenrauheit feiner Keramikfilme mittels Rasterkraftmikroskopie