GB/T 13388-1992 Verfahren zur Messung der kristallographischen Orientierung von Flächen auf Einkristall-Silikonscheiben und -Wafern durch Röntgentechniken (Englische Version)
2009GB/T 13388-2009 Verfahren zur Messung der kristallographischen Orientierung von Flächen auf einkristallinen Siliziumscheiben und Wafern mittels Röntgentechnik
1992GB/T 13388-1992 Verfahren zur Messung der kristallographischen Orientierung von Flächen auf Einkristall-Silikonscheiben und -Wafern durch Röntgentechniken