IEC 60147-0:1966
Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und allgemeine Prinzipien der Messmethoden. Teil 0: Allgemeines und Terminologie

Standard-Nr.

IEC 60147-0:1966

Erscheinungsdatum

1966

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

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Letzte Version

IEC 60147-0:1966

ersetzt durch

IEC 60747-2:1983 IEC 60747-1:1983 IEC 60747-6:1983

IEC 60147-0:1966 Veröffentlichungsverlauf

• 1966 IEC 60147-0:1966 Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und allgemeine Prinzipien der Messmethoden. Teil 0: Allgemeines und Terminologie

IEC 60147-0:1966 Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und allgemeine Prinzipien der Messmethoden. Teil 0: Allgemeines und Terminologie ha sido cambiado a IEC 60747-2:1983 Halbleiterbauelemente. Diskrete Geräte. Teil 2: Gleichrichterdioden.

IEC 60147-0:1966 Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und allgemeine Prinzipien der Messmethoden. Teil 0: Allgemeines und Terminologie ha sido cambiado a IEC 60747-1:1983 Halbleiterbauelemente. Diskrete Geräte. Teil 1: Allgemeines.

IEC 60147-0:1966 Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und allgemeine Prinzipien der Messmethoden. Teil 0: Allgemeines und Terminologie ha sido cambiado a IEC 60747-6:1983 Halbleiterbauelemente. Diskrete Geräte. Teil 6: Thyristoren.