KS D ISO 9220:2009
Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode

Standard-Nr.

KS D ISO 9220:2009

Erscheinungsdatum

2009

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

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ersetzt durch

KS D ISO 9220-2009(2017)

Letzte Version

KS D ISO 9220-2022

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KS D ISO 9220:1999

KS D ISO 9220:2009 Veröffentlichungsverlauf

• 2022 KS D ISO 9220-2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• 0000 KS D ISO 9220-2009(2017)
• 2009 KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• 0000 KS D ISO 9220:1999