KS D ISO 9220-2009(2017)
Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode

Standard-Nr.

KS D ISO 9220-2009(2017)

Erscheinungsdatum

2009

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden 2022-01

ersetzt durch

KS D ISO 9220-2022

Letzte Version

KS D ISO 9220-2022

KS D ISO 9220-2009(2017) Veröffentlichungsverlauf

• 2022 KS D ISO 9220-2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• 0000 KS D ISO 9220-2009(2017)
• 2009 KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• 0000 KS D ISO 9220:1999