KS D 8519-2009
Metallische und oxidische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode

Standard-Nr.

KS D 8519-2009

Erscheinungsdatum

2009

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden 2015-01

ersetzt durch

KS D 8519-2015

Letzte Version

KS D 8519-2015

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KS D 8519-1999

KS D 8519-2009 Veröffentlichungsverlauf

• 2015 KS D 8519-2015 Metallische und oxidische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – mikroskopische Methode
• 2009 KS D 8519-2009 Metallische und oxidische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
• 0000 KS D 8519-1999