KS D 8519-2015
Metallische und oxidische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – mikroskopische Methode

Standard-Nr.

KS D 8519-2015

Erscheinungsdatum

2015

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Letzte Version

KS D 8519-2015

KS D 8519-2015 Veröffentlichungsverlauf

• 2015 KS D 8519-2015 Metallische und oxidische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – mikroskopische Methode
• 2009 KS D 8519-2009 Metallische und oxidische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
• 0000 KS D 8519-1999