KS C IEC 60749-6:2004
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 6: Lagerung bei hohen Temperaturen

Standard-Nr.

KS C IEC 60749-6:2004

Erscheinungsdatum

2004

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

zurückziehen

ersetzt durch

KS C IEC 60749-6:2020

Letzte Version

KS C IEC 60749-6:2020

KS C IEC 60749-6:2004 Veröffentlichungsverlauf

• 2020 KS C IEC 60749-6:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 6: Lagerung bei hohen Temperaturen
• 2004 KS C IEC 60749-6:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 6: Lagerung bei hohen Temperaturen