KS C IEC 60749-6:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 6: Lagerung bei hohen Temperaturen

Standard-Nr.

KS C IEC 60749-6:2020

Erscheinungsdatum

2020

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Letzte Version

KS C IEC 60749-6:2020

KS C IEC 60749-6:2020 Veröffentlichungsverlauf

• 2020 KS C IEC 60749-6:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 6: Lagerung bei hohen Temperaturen
• 2004 KS C IEC 60749-6:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 6: Lagerung bei hohen Temperaturen