KS C IEC 60749-1:2006
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 1: Allgemeines

Standard-Nr.

KS C IEC 60749-1:2006

Erscheinungsdatum

2006

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

KS C IEC 60749-1-2006(2016)

Letzte Version

KS C IEC 60749-1-2021

KS C IEC 60749-1:2006 Veröffentlichungsverlauf

• 2021 KS C IEC 60749-1-2021 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 1: Allgemeines
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