KS C IEC 60749-1-2006(2016)
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 1: Allgemeines

Standard-Nr.

KS C IEC 60749-1-2006(2016)

Erscheinungsdatum

2006

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden 2021-01

ersetzt durch

KS C IEC 60749-1-2021

Letzte Version

KS C IEC 60749-1-2021

KS C IEC 60749-1-2006(2016) Veröffentlichungsverlauf

• 2021 KS C IEC 60749-1-2021 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 1: Allgemeines
• 0000 KS C IEC 60749-1-2006(2016)
• 2006 KS C IEC 60749-1:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 1: Allgemeines