IEC 60749-42:2014
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 42: Lagerung bei Temperatur und Luftfeuchtigkeit
- Standard-Nr.
- IEC 60749-42:2014
- Erscheinungsdatum
- 2014
- Organisation
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Letzte Version
- IEC 60749-42:2014
- Ersetzen
- IEC 47/2200/FDIS:2014
IEC 60749-42:2014 Normative Verweisungen
- IEC 60749-20:2008 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20: Beständigkeit von kunststoffummantelten SMDs gegenüber der kombinierten Einwirkung von Feuchtigkeit und Lötwärme
IEC 60749-42:2014 Veröffentlichungsverlauf
- 2014 IEC 60749-42:2014 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 42: Lagerung bei Temperatur und Luftfeuchtigkeit
