ISO 13095:2014
Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird
- Standard-Nr.
- ISO 13095:2014
- Erscheinungsdatum
- 2014
- Organisation
- International Organization for Standardization (ISO)
- Letzte Version
- ISO 13095:2014
ISO 13095:2014 Normative Verweisungen
- ISO 11039:2012 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Messung der Driftrate
- ISO 11952:2014 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
- ISO 18115-2:2010 Analysieren chemischer Oberflächen – Vokabeln – Teil 2: Termes utilisés en microscopie à sonde à balayage (Erstausgabe)
- ISO/TS 80004-4:2011 Nanotechnologien - Vokabeln - Teil 4: Nanostrukturierte Materialien
ISO 13095:2014 Veröffentlichungsverlauf
- 2014 ISO 13095:2014 Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird
