JIS R 1683:2014
Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit keramischer Dünnfilme mittels Rasterkraftmikroskopie

Standard-Nr.

JIS R 1683:2014

Erscheinungsdatum

2014

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS R 1683:2014

Ersetzen

JIS R 1683:2007

JIS R 1683:2014 Normative Verweisungen

• JIS B 0601 Geometrische Produktspezifikationen (GPS).Oberflächentextur: Profilmethode.Begriffe, Definitionen und Oberflächentexturparameter
• JIS B 0633 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Profilmethode – Regeln und Verfahren zur Beurteilung der Oberflächenbeschaffenheit
• JIS B 0651 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Nominale Eigenschaften von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).
• JIS Z 8401 Anleitung zum Runden von Zahlen

JIS R 1683:2014 Veröffentlichungsverlauf

• 2014 JIS R 1683:2014 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit keramischer Dünnfilme mittels Rasterkraftmikroskopie
• 2007 JIS R 1683:2007 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit keramischer Dünnfilme mittels Rasterkraftmikroskopie