JIS R 1683:2007
Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit keramischer Dünnfilme mittels Rasterkraftmikroskopie

Standard-Nr.

JIS R 1683:2007

Erscheinungsdatum

2007

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Zustand

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ersetzt durch

JIS R 1683:2014

Letzte Version

JIS R 1683:2014

JIS R 1683:2007 Normative Verweisungen

• JIS B 0601 Geometrische Produktspezifikationen (GPS).Oberflächentextur: Profilmethode.Begriffe, Definitionen und Oberflächentexturparameter*， 2013-03-21 Aktualisieren
• JIS B 0633 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Profilmethode – Regeln und Verfahren zur Beurteilung der Oberflächenbeschaffenheit
• JIS B 0651 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Nominale Eigenschaften von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).
• JIS Z 8401 Anleitung zum Runden von Zahlen

JIS R 1683:2007 Veröffentlichungsverlauf

• 2014 JIS R 1683:2014 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit keramischer Dünnfilme mittels Rasterkraftmikroskopie
• 2007 JIS R 1683:2007 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit keramischer Dünnfilme mittels Rasterkraftmikroskopie