KS C 6520-2008
Komponenten und Materialien von Halbleiterprozessen – Messung der Verschleißeigenschaften durch Plasma

Standard-Nr.

KS C 6520-2008

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

KS C 6520-2019

Letzte Version

KS C 6520-2021

KS C 6520-2008 Veröffentlichungsverlauf

• 2021 KS C 6520-2021 Komponenten und Materialien von Halbleiterprozessen – Messung der Verschleißeigenschaften mittels Plasma
• 2019 KS C 6520-2019 Komponenten und Materialien von Halbleiterprozessen – Messung der Verschleißeigenschaften mittels Plasma
• 2008 KS C 6520-2008 Komponenten und Materialien von Halbleiterprozessen – Messung der Verschleißeigenschaften durch Plasma