KS C IEC 60749-4:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)
Start
KS C IEC 60749-4:2003
Standard-Nr.
KS C IEC 60749-4:2003
Erscheinungsdatum
2003
Organisation
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Zustand
ersetzt werden
ersetzt durch
KS C IEC 60749-4:2020
Letzte Version
KS C IEC 60749-4:2020
KS C IEC 60749-4:2003 Veröffentlichungsverlauf
2020
KS C IEC 60749-4:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)
2003
KS C IEC 60749-4:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)
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