KS C IEC 60749-4:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)

Standard-Nr.

KS C IEC 60749-4:2020

Erscheinungsdatum

2020

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Letzte Version

KS C IEC 60749-4:2020

KS C IEC 60749-4:2020 Veröffentlichungsverlauf

• 2020 KS C IEC 60749-4:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)
• 2003 KS C IEC 60749-4:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)