GB/T 30110-2013
Messmethoden für Parameter von HgCdTe-Epischichten, die für Weltraum-Infrarotdetektoren verwendet werden (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 30110-2013
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2013
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Letzte Version
- GB/T 30110-2013
GB/T 30110-2013 Normative Verweisungen
- GB/T 1553-2009 Testmethoden für die Lebensdauer von Minoritätsträgern in massivem Germanium und Silicium durch Messung des Photoleitungsabfalls
- GB/T 1555-2009 Prüfverfahren zur Bestimmung der Orientierung eines Halbleiter-Einkristalls
- GB/T 4326-2006 Messung der Hall-Mobilität und des Hall-Koeffizienten durch extrinsische Halbleiter-Einkristalle
- GJB 1485 Präzision, Genauigkeit und Unsicherheit von Methoden zur Prüfung materieller physikalischer Eigenschaften
- GJB 2712 Anforderungen an die Qualitätssicherung von Messgeräten Metrologisches Bestätigungssystem
- GJB 548B-2005 Testmethoden und -verfahren für mikroelektronische Geräte
GB/T 30110-2013 Veröffentlichungsverlauf
- 2013 GB/T 30110-2013 Messmethoden für Parameter von HgCdTe-Epischichten, die für Weltraum-Infrarotdetektoren verwendet werden
