GB/T 1555-2009
Prüfverfahren zur Bestimmung der Orientierung eines Halbleiter-Einkristalls (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 1555-2009
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2009
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Zustand
- 2024-03
- ersetzt durch
- GB/T 1555-2023
- Letzte Version
- GB/T 1555-2023
- Ersetzen
- GB/T 1555-1997
GB/T 1555-2009 Normative Verweisungen
- GB/T 14264-2009 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen
- GB/T 2481.1-1998 Gebundene Schleifmittel – Bestimmung und Bezeichnung der Korngrößenverteilung – Teil 1: Makrokörnungen F4 bis F220
- GB/T 2481.2-2009 Gebundene Schleifmittel – Bestimmung und Bezeichnung der Korngrößenverteilung – Teil 2: Mikrokörnungen
GB/T 1555-2009 Veröffentlichungsverlauf
- 2023 GB/T 1555-2023 Methode zur Bestimmung der Kristallorientierung eines Halbleiter-Einkristalls
- 2009 GB/T 1555-2009 Prüfverfahren zur Bestimmung der Orientierung eines Halbleiter-Einkristalls
- 1997 GB/T 1555-1997 Testmethoden zur Bestimmung der Orientierung eines Halbleitereinkristalls
