KS C 0256-2002
Prüfverfahren für den spezifischen Widerstand von Siliziumkristallen und Siliziumwafern mit einer Vierpunktsonde

Standard-Nr.

KS C 0256-2002

Erscheinungsdatum

2002

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

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ersetzt durch

KS C 0256-2002(2017)

Letzte Version

KS C 0256-2022

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KS C 0256-1999

KS C 0256-2002 Veröffentlichungsverlauf

• 2022 KS C 0256-2022 Prüfverfahren für den spezifischen Widerstand von Siliziumkristallen und Siliziumwafern mit einer Vierpunktsonde
• 0000 KS C 0256-2002(2017)
• 2002 KS C 0256-2002 Prüfverfahren für den spezifischen Widerstand von Siliziumkristallen und Siliziumwafern mit einer Vierpunktsonde
• 0000 KS C 0256-1999