KS C 0256-2002(2017)
Prüfverfahren für den spezifischen Widerstand von Siliziumkristallen und Siliziumwafern mit einer Vierpunktsonde

Standard-Nr.

KS C 0256-2002(2017)

Erscheinungsdatum

2002

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden 2022-01

ersetzt durch

KS C 0256-2022

Letzte Version

KS C 0256-2022

KS C 0256-2002(2017) Veröffentlichungsverlauf

• 2022 KS C 0256-2022 Prüfverfahren für den spezifischen Widerstand von Siliziumkristallen und Siliziumwafern mit einer Vierpunktsonde
• 0000 KS C 0256-2002(2017)
• 2002 KS C 0256-2002 Prüfverfahren für den spezifischen Widerstand von Siliziumkristallen und Siliziumwafern mit einer Vierpunktsonde
• 0000 KS C 0256-1999