KS C IEC 60749-2:2004
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 2: Niedriger Luftdruck
Start
KS C IEC 60749-2:2004
Standard-Nr.
KS C IEC 60749-2:2004
Erscheinungsdatum
2004
Organisation
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Zustand
ersetzt werden
ersetzt durch
KS C IEC 60749-2:2020
Letzte Version
KS C IEC 60749-2:2020
KS C IEC 60749-2:2004 Veröffentlichungsverlauf
2020
KS C IEC 60749-2:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 2: Niedriger Luftdruck
2004
KS C IEC 60749-2:2004
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 2: Niedriger Luftdruck
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