KS C IEC 60749-2:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 2: Niedriger Luftdruck

Standard-Nr.

KS C IEC 60749-2:2020

Erscheinungsdatum

2020

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Letzte Version

KS C IEC 60749-2:2020

KS C IEC 60749-2:2020 Veröffentlichungsverlauf

• 2020 KS C IEC 60749-2:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 2: Niedriger Luftdruck
• 2004 KS C IEC 60749-2:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 2: Niedriger Luftdruck