ASTM E2244 Standardtestmethode für Längenmessungen in der Ebene dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer
ASTM E2246 Standardtestmethode für Dehnungsgradientenmessungen dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer
ASTM E2444 Terminologie im Zusammenhang mit Messungen an dünnen, reflektierenden Filmen
ASTM E2530 Standardpraxis zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung von einatomigen Si(111)-Schritten
ASTM E2245-11 Veröffentlichungsverlauf
2018ASTM E2245-11(2018) Standardtestmethode für Restdehnungsmessungen dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer
2011ASTM E2245-11e1 Standardtestmethode für Restdehnungsmessungen dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer
2011ASTM E2245-11 Standardtestmethode für Restdehnungsmessungen dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer
2005ASTM E2245-05 Standardtestmethode für Restdehnungsmessungen dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer
2002ASTM E2245-02 Standardtestmethode für Restdehnungsmessungen dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer